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光電測(cè)試系統(tǒng)的原理及性能特點(diǎn)都有哪些？

發(fā)布時(shí)間： 2020-05-28　　點(diǎn)擊次數(shù)： 1200次

　　光電測(cè)試系統(tǒng)的原理及性能特點(diǎn)都有哪些？
　　光電測(cè)試系統(tǒng)利用光學(xué)原理進(jìn)行精密檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)與光電變換相結(jié)合構(gòu)成光電檢測(cè)技術(shù)。光電檢測(cè)技術(shù)是對(duì)光學(xué)量及大量非光學(xué)物理量轉(zhuǎn)換成光學(xué)量進(jìn)行測(cè)量的重要手段。
　　該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量頻率高，它充分發(fā)揮了線陣CCD芯片的高頻掃描特性，測(cè)量頻率可達(dá)普遍在500HZ，高可達(dá)2000HZ，高于國(guó)內(nèi)外同類產(chǎn)品。不僅如此其測(cè)量精度也是非常高的，它的精度等級(jí)高的高頻CCD芯片，像元分辨率4.7UM。與物像比精確的光學(xué)系統(tǒng)相結(jié)合，全系產(chǎn)品高精度0.003MM，低精度也在0.02MM之內(nèi)。
　　光電測(cè)試系統(tǒng)的性能特點(diǎn)有：
　　1、頻域和時(shí)域的測(cè)試技術(shù)，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光電壓衰減，電量抽取和I-V曲線和IPCE測(cè)量
　　2、對(duì)有效擴(kuò)散系數(shù)的計(jì)算和電子壽命的“自動(dòng)”數(shù)據(jù)分析的“一鍵式”操作，適合于對(duì)頻域測(cè)試技術(shù)比較陌生的使用者。
　　3、帶有NIST可追溯校準(zhǔn)文件的光源，并且日常可以對(duì)其進(jìn)行校驗(yàn)檢查
　　4、長(zhǎng)期穩(wěn)定的熱效管理的光源
　　5、提供一系列的高亮度單色LED光源
　　6、軟件包含全套電化學(xué)測(cè)試技術(shù)，包括：循環(huán)伏安(C-V)，恒電壓-電流測(cè)試，系列的阻抗測(cè)試方法以及交流伏安法
　　7、輔助分壓功能可用于同時(shí)檢測(cè)陽極和陰極的阻抗和電壓
　　8、Solartron Analytical的頻率響應(yīng)分析（FRA）技術(shù)，包含單波，頻率掃描和多波技術(shù)兼容ModuLab和ModuLab XM全部功能。
　　光電測(cè)試系統(tǒng)是以激光、紅外、光纖等現(xiàn)代光電子器件為基礎(chǔ)，通過對(duì)被檢測(cè)物體的光輻射，經(jīng)光電檢測(cè)器接收光輻射并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，由輸入電路、放大濾波等檢測(cè)電路提取有用信息，再經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換接口輸入計(jì)算機(jī)運(yùn)算處理，之后顯示輸出所需要的檢測(cè)物理量等參數(shù)。

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